ЗАПОЛНИТЬ ЗАЯВКУ НА ОБОРУДОВАНИЕ
Зафиксировать свое обращение сейчас
Система подготовки твердых образцов
-
2 400 000 ₽Leica EM RAPID – используется для подготовки образцов при исследовании... -
10 190 000 ₽Leica EM RES102 позволяет изменять ориентацию ионных пучков с углом... -
10 100 000 ₽Leica EM TIC3x – использует принцип одновременного поперечного травления с... -
4 950 000 ₽Система позволяет проводить фрезеровку, резку, шлифовку, полировку без удаления образца...
В сканирующем электронном микроскопе могут исследоваться как шлифы, так и поверхности объектов без предварительной подготовки. Изготовление шлифов к исследованию на СЭМ в общем осуществляется так же, как и для светового микроскопа. Однако есть и некоторые особенности. Большая глубина резкости изображения в СЭМ позволяет получать дополнительную информацию, проводя глубокое травление шлифов. Также для достижения высокого качества поперечных срезов используется техника трех-лучевой наклонной резки.
Особенности
Leica EM TXP — универсальная установка для механической прецизионной подготовки поверхности образцов зеркального качества для ПЭМ и СЭМ и АСМ исследований. Интегрированный стереомикроскоп с масштабной сеткой. Система позволяет проводить фрезеровку, резку, шлифовку, полировку без удаления образца из прибора. После проведения операций по подготовке образца, с помощью встроенного микроскопа можно провести контроль качества полученной поверхности, нет необходимости переносить образец на другой прибор.
Почему именно мы?
Наша компания предлагает к приобретению качественную систему подготовки твердых образцов, которая подходит для ПЭМ, СЭМ и АСМ исследований. Работаем на рынке более 9 лет, отличаемся положительной репутацией, можем продемонстрировать данную установку в работе. Купить систему подготовки твердых образцов можно у нас по цене от производителя.
