ЗАПОЛНИТЬ ЗАЯВКУ НА ОБОРУДОВАНИЕ

Зафиксировать свое обращение сейчас

Система подготовки твердых образцов

  • В наличии

    2 400 000 
    Leica EM RAPID – используется для подготовки образцов при исследовании...
  • В наличии

    10 190 000 
    Leica EM RES102 позволяет изменять ориентацию ионных пучков с углом...
  • В наличии

    10 100 000 
    Leica EM TIC3x – использует принцип одновременного поперечного травления с...
  • В наличии

    4 950 000 
    Система позволяет проводить фрезеровку, резку, шлифовку, полировку без удаления образца...

В сканирующем электронном микроскопе могут исследоваться как шлифы, так и поверхности объектов без предварительной подготовки. Изготовление шлифов к исследованию на СЭМ в общем осуществляется так же, как и для светового микроскопа. Однако есть и некоторые особенности. Большая глубина резкости изображения в СЭМ позволяет получать дополнительную информацию, проводя глубокое травление шлифов. Также для достижения высокого качества поперечных срезов используется техника трех-лучевой наклонной резки.

Особенности

Leica EM TXP — универсальная установка для механической прецизионной подготовки поверхности образцов зеркального качества для ПЭМ и СЭМ и АСМ исследований. Интегрированный стереомикроскоп с масштабной сеткой. Система позволяет проводить фрезеровку, резку, шлифовку, полировку без удаления образца из прибора. После проведения операций по подготовке образца, с помощью встроенного микроскопа можно провести контроль качества полученной поверхности, нет необходимости переносить образец на другой прибор.

Почему именно мы?

Наша компания предлагает к приобретению качественную систему подготовки твердых образцов, которая подходит для ПЭМ, СЭМ и АСМ исследований. Работаем на рынке более 9 лет, отличаемся положительной репутацией, можем продемонстрировать данную установку в работе.