Универсальная система для механической подготовки поверхности Leica EM TXP

АЛЬЯНС ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ LLC "Optical Systems Alliance"

Поставка микроскопов для науки
и промышленности

Корзина:

Поставщик микроскопов

LLC "Optical Systems Alliance"

Предыдущая
Следующая

Универсальная система для механической подготовки поверхности Leica EM TXP

В наличии

Цена мин. конфигурации: 4 950 000 

ОПИСАНИЕ

Регистрационное Удостоверение не оформлено

Leica EM TXP – универсальная установка для механической прецизионной подготовки поверхности образцов зеркального качества для ПЭМ и СЭМ и АСМ исследований. Интегрированный стереомикроскоп с масштабной сеткой. Система позволяет проводить фрезеровку, резку, шлифовку, полировку без удаления образца из прибора. После проведения операций по подготовке образца, с помощью встроенного микроскопа можно провести контроль качества полученной поверхности, нет необходимости переносить образец на другой прибор.

ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ

  • Под заказ

    Вакуумный эллипсометр с переменным углом наклона VUV-VASE измеряет длины волн...
  • Под заказ

    IR-VASE используется для характеристики как тонких пленок, так и сыпучих...
  • Под заказ

    VASE - это точный и универсальный эллипсометр для исследований всех видов...
  • Под заказ

    Эллипсометр Alpha-SE подойдет для рутинных измерений толщины тонкой пленки и показателя...
  • Под заказ

    Эллипсометр RC2 J.A. Woollam Company сочетает в себе: двухповоротные компенсаторы,...

ПОМОЩЬ В ПОДБОРЕ МИКРОСКОПА

Зафиксировать свое обращение сейчас

Задать вопрос:
Универсальная система для механической подготовки поверхности Leica EM TXP