Система трехлучевого ионного травления материалов Leica EM TIC3x - Оптика и микроскопы

АЛЬЯНС ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ LLC "Optical Systems Alliance"

Поставка микроскопов для науки
и промышленности

Корзина:

Поставщик микроскопов

LLC "Optical Systems Alliance"

Регистрационное удостоверения на медицинское изделие

Система трехлучевого ионного травления материалов Leica EM TIC3x

В наличии

ОПИСАНИЕ

Регистрационное Удостоверение не оформлено

Leica EM TIC3x – использует принцип одновременного поперечного травления с трех направлений для подготовки поверхности для СЭМ и АСМ исследований, а также проведения EDS (энергодисперсионный элементный анализ), WDS (волнодисперсный элементный анализ), Auger (анализ оже-электронов) и EBSD анализа (дифракция обратно рассеянных электронов). Для работы на системе требуется минимальная предварительная механическая подготовка образца. К функциональным особенностям прибора можно отнести 3 Ar ионных пушки, столик, перемещающийся в трех направлениях и встроенный стереомикроскоп. Для обработки чувствительных материалов может быть установлен стол, позволяющий охладить держатель образца и маску.

Цена мин. конфигурации: 10 100 000 

ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ

  • Под заказ

    Вакуумный эллипсометр с переменным углом наклона VUV-VASE измеряет длины волн...
  • Под заказ

    IR-VASE используется для характеристики как тонких пленок, так и сыпучих...
  • Под заказ

    VASE - это точный и универсальный эллипсометр для исследований всех видов...
  • Под заказ

    Эллипсометр Alpha-SE подойдет для рутинных измерений толщины тонкой пленки и показателя...
  • Под заказ

    Эллипсометр RC2 J.A. Woollam Company сочетает в себе: двухповоротные компенсаторы,...

ПОМОЩЬ В ПОДБОРЕ МИКРОСКОПА

Зафиксировать свое обращение сейчас

Задать вопрос:
Система трехлучевого ионного травления материалов Leica EM TIC3x