Главная » КАТАЛОГ МИКРОСКОПОВ » Пробоподготовка оборудования » Система трехлучевого ионного травления материалов Leica EM TIC3x

Система трехлучевого ионного травления материалов Leica EM TIC3x

Цена мин. конфигурации: 10 100 000 ₽

Управление системой Leica EM TIC3x ведётся посредством сенсорной панели. Требующиеся программы загружаются на USB-накопитель.

держатель образцов. Позволяет фиксировать и обрабатывать образцы размерами до 50 × 50 × 10 мм;

3 Ar-ионные пушки, расположенные в одном узле. Дают возможность проводить травление одновременно с трёх направлений. Настраиваются и переключаются независимо друг от друга, расширяя тем самым круг выполняемых задач;

столик, перемещающийся в трёх направлениях. Используется при необходимости охладить держатель образца и маску до − 150 °C.

Добавить в корзину

ОПИСАНИЕ

Регистрационное Удостоверение не оформлено

Leica EM TIC3x – использует принцип одновременного поперечного травления с трех направлений для подготовки поверхности для СЭМ и АСМ исследований, а также проведения EDS (энергодисперсионный элементный анализ), WDS (волнодисперсный элементный анализ), Auger (анализ оже-электронов) и EBSD анализа (дифракция обратно рассеянных электронов). Для работы на системе требуется минимальная предварительная механическая подготовка образца. К функциональным особенностям прибора можно отнести 3 Ar ионных пушки, столик, перемещающийся в трех направлениях и встроенный стереомикроскоп. Для обработки чувствительных материалов может быть установлен стол, позволяющий охладить держатель образца и маску.

ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ

Oplenic CX33

120 000 ₽

Микроскоп Oplenic CX33, является улучшенной копией микроскопа Olympus CX33, Leica...
Oplenic Fi LV200

120 000 ₽

Микроскоп Oplenic Fi LV200, является улучшенной копией микроскопа Nikon E200...
Oplenic CX63

120 000 ₽

Прямые микроскопы относят к так называемым compound микроскопам. В таких...
Oplenic CX43

195 000 ₽

Микроскоп Oplenic CX43 подходит для простых работ в лабораториях с...
Olympus MX51

5 825 000 ₽

Микроскоп Олимпус MX51 - Компактный инспекционный микроскоп для микроэлектроники.