Главная » КАТАЛОГ МИКРОСКОПОВ » Спектральные эллипсометры » Вакуумный эллипсометр VUV-VASE J.A. Woollam Company

Вакуумный эллипсометр VUV-VASE J.A. Woollam Company

Out of stock

Максимальная толщина подложки: 20 мм

Размеры: показано ниже

Количество длин волн: Определяется пользователем перед измерением

Программное обеспечение: WVASE

Спектральный диапазон: Стандарт: 240-2500нм
расширение DUV: добавляет 193-240 нм
расширение XXIR: добавляет 2500-3200 нм
расширение 4IR: добавляет 2500-4000 нм (требуется охлаждение жидким азотом)

Источник света: ксеноновая лампа мощностью 75 Вт с конвекционным охлаждением

Скорость сбора данных:
Обычно: от 0,1 до 3 секунд на длину волны, в зависимости от отражательной способности образца.
Высокая точность: для измерений с использованием функции полного автоматического восстановления требуется 20 секунд на длину волны.

Требования к питанию: 100, 110, 220, 240 В переменного тока, 50-60 Гц, 4/8 Ампер

Добавить в корзину

ОПИСАНИЕ

Регистрационное Удостоверение не оформлено

Вакуумный эллипсометр с переменным углом наклона VUV-VASE является золотым стандартом для оптической измерений тонких пленок в литографии. Он измеряет длины волн от вакуумного ультрафиолета (VUV) до ближнего ИК (NIR). Это обеспечивает невероятную универсальность для измерений многих материалов: полупроводников, диэлектриков, полимеров, металлов, многослойных материалов и жидкостей, таких как иммерсионные жидкости.

ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ

Oplenic SMZ850

426 650 ₽

Это улучшенная копия Olympus SZ61
Oplenic SMZ1000

626 650 ₽

Улучшенная версия Olympus SZX2 ZB7
Oplenic SMZ1280

1 226 650 ₽

Многоцелевой и недорогой стереомикроскоп
Oplenic GX43

505 000 ₽

Лабораторный инвертированный микроскоп для рутинных работ в отраженном свете
Oplenic GX53

605 000 ₽

Лабораторный инвертированный микроскоп для рутинных работ