Эллипсометр M-2000 J.A. Woollam Company

Регистрационное Удостоверение не оформлено

Спектроскопический эллипсометр M-2000 спроектирован для измерения разнообразных тонкопленочных характеристик. Передовой оптический дизайн, широкий спектральный диапазон и быстрый сбор данных объединяются в чрезвычайно мощный и универсальный инструмент. M-2000 обеспечивает скорость и точность.
Технология RCE объединяет эллипсометрию вращающегося компенсатора с высокоскоростным детектированием ПЗС для сбора всего спектра (сотни длин волн) за долю секунды с широким спектром конфигураций. M-2000 — это первый эллипсометр, который по-настоящему превосходит все, начиная от контроля на месте и управления процессом, до создания топографии поверхности большой площади и измерений параметров тонкой пленки.