Главная » КАТАЛОГ МИКРОСКОПОВ » Спектральные эллипсометры » Эллипсометр IR-VASE Mark II J.A. Woollam Company

Эллипсометр IR-VASE Mark II J.A. Woollam Company

Под заказ

Детектор: DTGS

Углы падения: от 26 ° до 90 °

Диапазон длин волн: от 1,7 мкм до 30 мкм от 333 см-1 до 5900 см-1

Скорость сбора данных (полный спектр):: Обычно от 1 до 30 минут (1 угол падения при 16 см — 1 разрешение) * Для получения более точного разрешения потребуется больше времени.

Максимальная толщина подложки: 20 мм

Добавить в корзину

ОПИСАНИЕ

Регистрационное Удостоверение не оформлено

IR-VASE — первый и единственный спектроскопический эллипсометр, объединяющий химическую чувствительность FTIR-спектроскопии с чувствительностью спектроскопической эллипсометрии. IR-VASE покрывает широкий спектральный диапазон от 1,7 до 30 микрон (от 333 до 5900 волновых чисел). Он используется для характеристики как тонких пленок, так и сыпучих материалов в исследованиях и промышленности. Эта быстрорастущая технология находит применение в оптических покрытиях, полупроводниковой, биологической и химической промышленности, а также в исследовательских лабораториях.

ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ

Вакуумный эллипсометр VUV-VASE J.A. Woollam Company

Под заказ

Вакуумный эллипсометр с переменным углом наклона VUV-VASE измеряет длины волн...
Эллипсометр IR-VASE Mark II J.A. Woollam Company

Под заказ

IR-VASE используется для характеристики как тонких пленок, так и сыпучих...
Эллипсометр VASE J.A. Woollam Company

Под заказ

VASE - это точный и универсальный эллипсометр для исследований всех видов...
Эллипсометр Alpha-SE J.A. Woollam Company

Под заказ

Эллипсометр Alpha-SE подойдет для рутинных измерений толщины тонкой пленки и показателя...
Эллипсометр RC2 J.A. Woollam Company

Под заказ

Эллипсометр RC2 J.A. Woollam Company сочетает в себе: двухповоротные компенсаторы,...