Эллипсометр IR-VASE Mark II J.A. Woollam Company

АЛЬЯНС ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ LLC "Optical Systems Alliance"

Поставка микроскопов для науки
и промышленности

Корзина:

Поставщик микроскопов

LLC "Optical Systems Alliance"

Предыдущая
Следующая

Эллипсометр IR-VASE Mark II J.A. Woollam Company

Под заказ

Детектор: DTGS
Углы падения: от 26 ° до 90 °
Диапазон длин волн: от 1,7 мкм до 30 мкм от 333 см-1 до 5900 см-1
Скорость сбора данных (полный спектр):: Обычно от 1 до 30 минут (1 угол падения при 16 см — 1 разрешение) * Для получения более точного разрешения потребуется больше времени.
Максимальная толщина подложки: 20 мм

ОПИСАНИЕ

Регистрационное Удостоверение не оформлено

IR-VASE — первый и единственный спектроскопический эллипсометр, объединяющий химическую чувствительность FTIR-спектроскопии с чувствительностью спектроскопической эллипсометрии. IR-VASE покрывает широкий спектральный диапазон от 1,7 до 30 микрон (от 333 до 5900 волновых чисел). Он используется для характеристики как тонких пленок, так и сыпучих материалов в исследованиях и промышленности. Эта быстрорастущая технология находит применение в оптических покрытиях, полупроводниковой, биологической и химической промышленности, а также в исследовательских лабораториях.

ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ

  • Под заказ

    Вакуумный эллипсометр с переменным углом наклона VUV-VASE измеряет длины волн...
  • Под заказ

    IR-VASE используется для характеристики как тонких пленок, так и сыпучих...
  • Под заказ

    VASE - это точный и универсальный эллипсометр для исследований всех видов...
  • Под заказ

    Эллипсометр Alpha-SE подойдет для рутинных измерений толщины тонкой пленки и показателя...
  • Под заказ

    Эллипсометр RC2 J.A. Woollam Company сочетает в себе: двухповоротные компенсаторы,...

ПОМОЩЬ В ПОДБОРЕ МИКРОСКОПА

Зафиксировать свое обращение сейчас

Задать вопрос:
Эллипсометр IR-VASE Mark II J.A. Woollam Company