Главная » КАТАЛОГ МИКРОСКОПОВ » Электронные микроскопы » Электронный микроскоп Magellan 400 XHR SEM FEI Company

Электронный микроскоп Magellan 400 XHR SEM FEI Company

Под заказ

Детекторные системы:
Вторичные электроны:
Эверхарт-Торнли и сквозная линза (TLD)
Электроны с обратным рассеянием: TLD и выдвижной vCD (для BSED при низких напряжениях)
Пропускаемые электроны (STEM): BF, DF и HAADF

Навигационная камера

Ток луча: 0,6 пА — 22 нА

Замедление луча для повышения производительности при низких кВ

Мощность при посадке: от 50 В до 30 кВ, плавно регулируется

Встроенный очиститель плазмы

5-осевой высокоточный стенд для отбора образцов 100 мм x 100 мм с пьезоуправлением

Разброс энергии луча менее 0,2 эВ

Комплект держателей для образцов, включающий держатели с поперечным сечением, несколькими заглушками и стержнем

Добавить в корзину

ОПИСАНИЕ

Регистрационное Удостоверение не оформлено

Новый класс инструментов с экстремально высоким разрешением (XHR SEM). Позволяет видеть трехмерные изображения поверхностей образцов под различными углами при разрешениях менее одного нанометра (порядка размеров десяти атомов водорода, выстроенных рядом в линейку). Важно, что микроскопы Magellan XHR SEM обеспечивают визуализацию образцов при очень низких энергиях электронного пучка.

Цена: по запросу

ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ

Вакуумный эллипсометр VUV-VASE J.A. Woollam Company

Под заказ

Вакуумный эллипсометр с переменным углом наклона VUV-VASE измеряет длины волн...
Эллипсометр IR-VASE Mark II J.A. Woollam Company

Под заказ

IR-VASE используется для характеристики как тонких пленок, так и сыпучих...
Эллипсометр VASE J.A. Woollam Company

Под заказ

VASE - это точный и универсальный эллипсометр для исследований всех видов...
Эллипсометр Alpha-SE J.A. Woollam Company

Под заказ

Эллипсометр Alpha-SE подойдет для рутинных измерений толщины тонкой пленки и показателя...
Эллипсометр RC2 J.A. Woollam Company

Под заказ

Эллипсометр RC2 J.A. Woollam Company сочетает в себе: двухповоротные компенсаторы,...