Электронный микроскоп Helios NanoLab DualBeam FEI Company - Оптика и микроскопы

АЛЬЯНС ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ LLC "Optical Systems Alliance"

Поставка микроскопов для науки
и промышленности

Корзина:

Поставщик микроскопов

LLC "Optical Systems Alliance"

Предыдущая
Следующая

Электронный микроскоп Helios NanoLab DualBeam FEI Company

Под заказ

ОПИСАНИЕ

Регистрационное Удостоверение не оформлено

Новое поколение приборов для исследования внутреннего строения объектов и создания стерео изображения образцов без дополнительной программной обработки. Прибор идеален для анализа внутреннего строения объектов. В состав прибора включено программное обеспечение для автоматизированной подготовки проб к анализу на просвечивающем микроскопе.

Цена: по запросу

ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ

  • Под заказ

    Вакуумный эллипсометр с переменным углом наклона VUV-VASE измеряет длины волн...
  • Под заказ

    IR-VASE используется для характеристики как тонких пленок, так и сыпучих...
  • Под заказ

    VASE - это точный и универсальный эллипсометр для исследований всех видов...
  • Под заказ

    Эллипсометр Alpha-SE подойдет для рутинных измерений толщины тонкой пленки и показателя...
  • Под заказ

    Эллипсометр RC2 J.A. Woollam Company сочетает в себе: двухповоротные компенсаторы,...

ПОМОЩЬ В ПОДБОРЕ МИКРОСКОПА

Зафиксировать свое обращение сейчас

Задать вопрос:
Электронный микроскоп Helios NanoLab DualBeam FEI Company