Cистема криозамещения Leica EM AFS2

АЛЬЯНС ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ LLC "Optical Systems Alliance"

Поставка микроскопов для науки
и промышленности

Корзина:

Поставщик микроскопов

LLC "Optical Systems Alliance"

Предыдущая
Следующая

Cистема криозамещения Leica EM AFS2

В наличии

Цена мин. конфигурации: 5 180 000 

ОПИСАНИЕ

Регистрационное Удостоверение не оформлено

Leica EM AFS2 – позволяет применять технику криозамещения и Прогрессивного Снижения Температуры (ПСТ). Осуществляет низкотемпературную заливку для крио методов, таких как замораживание под давлением.
Позволяет проводить замещающую заморозку при последовательном снижении температуры (PLT) и проводить UV-LED полимеризацию образца.
Температурный диапазон: –140 °C до +70 °C. Встроенный дисплей. Пользовательские подсказки.

ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ

  • Под заказ

    Вакуумный эллипсометр с переменным углом наклона VUV-VASE измеряет длины волн...
  • Под заказ

    IR-VASE используется для характеристики как тонких пленок, так и сыпучих...
  • Под заказ

    VASE - это точный и универсальный эллипсометр для исследований всех видов...
  • Под заказ

    Эллипсометр Alpha-SE подойдет для рутинных измерений толщины тонкой пленки и показателя...
  • Под заказ

    Эллипсометр RC2 J.A. Woollam Company сочетает в себе: двухповоротные компенсаторы,...

ПОМОЩЬ В ПОДБОРЕ МИКРОСКОПА

Зафиксировать свое обращение сейчас

Задать вопрос:
Cистема криозамещения Leica EM AFS2