Система сушки в критической точке Leica EM CPD300 - Оптика и микроскопы

АЛЬЯНС ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ LLC "Optical Systems Alliance"

Поставка микроскопов для науки
и промышленности

Корзина:

Поставщик микроскопов

LLC "Optical Systems Alliance"

Регистрационное удостоверения на медицинское изделие

Система сушки в критической точке Leica EM CPD300

В наличии

ОПИСАНИЕ

Регистрационное Удостоверение не оформлено

Leica EM CPD030 – система для сушки различных биологических образцов и таких промышленных образцов как MEMS (Микро-электро-механические системы), предназначенных для исследования на сканирующем электронном микроскопе. Эта уникальная технология позволяет избежать артефактов, присущих традиционной сушке при комнатной температуре. Соединения, которые находятся в критической точке, могут быть преобразованы в жидкую или газообразную фазу, без переходных процессов, позволяя избежать деформаций и искажения образца. Вода в образце сначала замещается такими веществами как этанол или ацетон, а они в свою очередь замещаются жидким СО2. После этого в приборе создаются условия, при которых жидкий СО2 переходит в свое критическое состояние. Затем за счет снижения давления, при постоянной температуре критической точки, СО2 переходит в газообразное состояние и удаляется из образца.

Цена мин. конфигурации: 2 640 000 

ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ

  • Под заказ

    Вакуумный эллипсометр с переменным углом наклона VUV-VASE измеряет длины волн...
  • Под заказ

    IR-VASE используется для характеристики как тонких пленок, так и сыпучих...
  • Под заказ

    VASE - это точный и универсальный эллипсометр для исследований всех видов...
  • Под заказ

    Эллипсометр Alpha-SE подойдет для рутинных измерений толщины тонкой пленки и показателя...
  • Под заказ

    Эллипсометр RC2 J.A. Woollam Company сочетает в себе: двухповоротные компенсаторы,...

ПОМОЩЬ В ПОДБОРЕ МИКРОСКОПА

Зафиксировать свое обращение сейчас

Задать вопрос:
Система сушки в критической точке Leica EM CPD300